研發(fā)規(guī)模
4000
+m²
占地面積
5000
+萬元
設(shè)備總值
200
+人
專職工作人員
實驗設(shè)備
日立掃描電鏡
日立掃描電鏡
電感耦合等離子體光譜儀(ICP)德國斯派克green
電感耦合等離子體光譜儀(ICP)德國斯派克green
發(fā)射場掃描電子顯微鏡
發(fā)射場掃描電子顯微鏡
等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-AES)
等離子體發(fā)射光譜儀(ICP-AES)
激光粒度測試儀
激光粒度測試儀
全功能比表面積及空隙分析儀(EBT)美國麥克儀器公司TriStar3020
全功能比表面積及空隙分析儀(EBT)美國麥克儀器公司TriStar3020
